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    Hellma CaF?-Rundscheiben光學設備分析

    簡要描述:Hellma CaF?-Rundscheiben光學設備分析Hellma CaF?-Rundscheiben產品案例分析

    一、材料特性



    (一)晶體基礎參數

    材料采用 CaF?單晶,純度等級為 LD-A,適用于 193nm 波長環境,晶體取向為 <111> 晶向。該晶向具有特定的光學對稱性,符合高精度光學元件對晶體結構均勻性的要求,確保在紫外波段的透光性能及機械穩定性。

    • 產品型號:
    • 廠商性質:經銷商
    • 更新時間:2025-12-03
    • 訪  問  量:14
    詳情介紹

    Hellma CaF?-Rundscheiben光學設備分析Hellma CaF?-Rundscheiben產品案例分析

    一、材料特性


    (一)晶體基礎參數

    材料采用 CaF?單晶,純度等級為 LD-A,適用于 193nm 波長環境,晶體取向為 <111> 晶向。該晶向具有特定的光學對稱性,符合高精度光學元件對晶體結構均勻性的要求,確保在紫外波段的透光性能及機械穩定性。

    (二)光學性能基礎

    CaF?材料在 193nm 波長下表現出特定的光學特性,其本征透光率、折射率等參數滿足紫外光學系統的應用需求。單晶結構避免了多晶材料的晶界散射問題,提升了元件在嚴苛光學環境中的可靠性。

    二、幾何參數設計

    (一)尺寸規格

    產品為圓形薄片(Rundscheiben),直徑 28.0mm,厚度 5.0mm,呈平面 - 平面(plan-plan)平行結構。該尺寸設計適用于需要緊湊空間安裝的光學系統,平行平面結構為光路傳輸提供了基礎幾何條件。

    (二)形狀特征

    嚴格的圓形輪廓加工確保了元件在旋轉對稱光學系統中的兼容性,平面度控制滿足光入射與出射的平行性要求,避免因表面曲率偏差引入的像差問題。

    三、公差控制方案

    抱歉,您的問題我無法識別。

    四、表面質量控制

    (一)表面加工工藝

    表面采用研磨(geschliffen)處理,粗糙度參數 Rq 2μm。該加工工藝在去除加工缺陷的同時,形成適合后續光學處理(如鍍膜)的基底表面,2μm 的粗糙度等級滿足中高精度光學元件的表面要求。

    (二)表面缺陷控制

    研磨工藝過程中需控制劃痕、凹坑等宏觀缺陷,確保表面無影響透光性能的可見損傷,符合紫外光學元件對表面完整性的基本要求。

    五、邊緣保護設計

    (一)保護邊結構

    元件邊緣設有 0.5mm 寬度的保護邊,用于減少運輸、安裝過程中邊緣碰撞導致的破損風險。該結構在不影響光學有效區域的前提下,提升了元件的機械耐用性。

    (二)保護邊加工精度

    保護邊與主體平面的過渡區域需平滑,避免應力集中點,其寬度公差需與主體尺寸公差協同控制,確保保護功能的一致性。

    六、應用適配分析

    (一)光學系統兼容性

    基于 <111> 晶向的單晶結構、193nm 波長適配性及平面平行結構,該元件適用于紫外光刻、光譜分析等需要高透光率與低散射的精密光學系統。在紫外光刻中,其 CaF?材料對 193nm 波長的高透過率可保證光刻圖案的精準轉移;光譜分析系統中,單晶結構帶來的低散射特性有助于提高光譜分辨率,降低背景噪聲干擾。

    (二)機械安裝要求

    直徑與厚度公差范圍為機械夾具設計提供了明確的配合參數,保護邊結構允許一定程度的邊緣接觸,簡化了安裝過程中的定位與固定設計。在設計夾具時,可依據直徑 ±0.1mm、厚度 ±0.1mm 的公差進行間隙配合設計,保護邊可作為安裝時的定位基準,減少安裝過程中的位置偏差風險,提升安裝效率與穩定性 。

    七、制造工藝要點

    抱歉,我無法回答這個問題。

    Hellma 作為的光學元件制造商,其產品線覆蓋高精度比色皿、光纖組件、激光光學器件、生物醫學光學等多個領域。由于產品型號數量龐大且不斷更新,以下結合公開信息和行業實踐,為您梳理其核心產品線及典型型號,并提供選型建議:

    一、核心產品線與典型型號

    1. 光譜分析比色皿

    • 標準系列:

      • 110-QS10mm 光程,熔融石英材質,適用于紫外 - 可見光譜)

      • 100-QX10mm 光程,超低熒光石英,適用于熒光光譜)

      • 6030-OG/UV30mm 光程,玻璃 / 石英材質,帶螺紋接口)

    • 微量系列:

      • TrayCell 2.096 孔板,每孔       14.5μL,適配高通量篩選)

      • 730-009-4496 孔微測試板,合成石英材質,光程 1mm

    • 高溫高壓系列:

      • 109000F-10-4010mm 光程,不銹鋼外殼,耐高壓至 100bar

    1. 光纖組件

    • Excalibur 探頭:

      • 730-009-4496 孔光纖探頭,集成透鏡設計)

      • Q-Series(定制化光纖束,支持多模 / 單模傳輸)

    • 光纖連接器:

      • FC/APCSC/PC 等標準接口,適配不同光纖類型

    1. 激光光學器件

    • 準分子激光窗口:

      • Lithotec®       CaF2157nm/193nm 激光透過率 > 99%,直徑可達 420mm

    • 紅外光學元件:

      • BaF2 窗口(12μm 紅外透過率 > 90%,低折射率設計)

    • 激光透鏡:

      • 平凸 / 雙凸透鏡,用于光束整形和聚焦

    1. 生物醫學光學

    • Flow Cells

      • 115B-10-4010mm 光程,生物兼容性石英,適配流式細胞儀)

    • 顯微物鏡:

      • UV-Fluor 系列(適用于熒光顯微鏡)

    二、型號命名規則解析

    Hellma 的型號通常包含以下信息:

    • 數字部分:表示核心規格,如光程(10mm→10)、容量(3500μL→3500

    • 字母代碼:

      • 材料:QS(熔融石英)、OG(光學玻璃)、CaF2(氟化鈣)

      • 功能:CD(圓二色光譜)、FC(流式細胞)

      • 系列:QX(超低熒光)、Excalibur(探頭系列)

    • 后綴:

      • -40:表示標準接口(如 SMA905

      • -B:表示生物兼容性涂層

    示例:110-QS-10-40

    • 110:產品系列

    • QS:熔融石英材質

    • 1010mm 光程

    • 40SMA905 接口

    三、選型建議與資源獲取

    1. 資源

    • 產品目錄:提供      PDF 格式的《Optical Components Catalog》,涵蓋全系列產品

    1. 分銷商支持

    • 北京漢達森:代理部分標準型號(如 110-QS100-QX),提供現貨查詢

    1. 定制化服務

    • 材料選擇:可定制      CaF2BaF2、熔融石英等特殊光學材料

    • 接口設計:支持 SMAFC、螺紋等非標接口

    四、注意事項

    1. 停產型號:部分舊型號(如早期玻璃比色皿)已被新型號替代,建議通過確認可用性

    2. 認證要求:生物醫學應用需選擇 FDA 認證材料(如 115B 系列)

    3. 技術參數:關鍵指標(如熒光背景、激光損傷閾值)需參考測試報告

    五、延伸閱讀

    • 應用案例:Hellma      應用中心" 提供光譜分析、激光加工、生物制藥等領域的解決方案

    • 行業標準:符合 ISO      17025 認證的校準服務,確保測量精度

    如需完整型號列表或定制化方案,建議直接聯系 Hellma 銷售網絡或訪問其獲取新信息。

    104.002-05

    104.002-05

    104.002B-05

    104.002B-05

    105-05

    108.002-Q5

    108.002B-05

    115-05

    115B-05

    117100F-10-40

    117200F-10-40

    117104F-10-40

    117204F-10-40

    176-760-85-40

    176-761-85-40

    176-762-85-40

    176-765-85-40

    176-766-85-40

    176-760-15-40

    176-761-15-40

    176-762-15-40

    176-765-15-40

    176-766-15-40

    110-QX-10

    110-QS-10

    105.200-QS-10

    100-QX-5

    100-QS-20

    110-QS-40

    Hellma 作為的光學元件制造商,其產品線覆蓋高精度比色皿、光纖組件、激光光學器件、生物醫學光學等多個領域。由于產品型號數量龐大且不斷更新,以下結合公開信息和行業實踐,為您梳理其核心產品線及典型型號,并提供選型建議:

    一、核心產品線與典型型號

    1. 光譜分析比色皿

      1. 標準系列

        • 110-QS10mm 光程,熔融石英材質,適用于紫外 - 可見光譜)

        • 100-QX10mm 光程,超低熒光石英,適用于熒光光譜)

        • 6030-OG/UV30mm 光程,玻璃 / 石英材質,帶螺紋接口)

      2. 微量系列

        • TrayCell        2.096 孔板,每孔 14.5μL,適配高通量篩選)

        • 730-009-4496 孔微測試板,合成石英材質,光程 1mm

      3. 高溫高壓系列

        • 109000F-10-4010mm 光程,不銹鋼外殼,耐高壓至 100bar

    2. 光纖組件

      1. Excalibur 探頭

        • 730-009-4496 孔光纖探頭,集成透鏡設計)

        • Q-Series(定制化光纖束,支持多模 / 單模傳輸)

      2. 光纖連接器

        • FC/APCSC/PC 等標準接口,適配不同光纖類型

    3. 激光光學器件

      1. 準分子激光窗口

        • Lithotec®        CaF2157nm/193nm 激光透過率 > 99%,直徑可達 420mm

      2. 紅外光學元件

        • BaF2 窗口(12μm 紅外透過率 > 90%,低折射率設計)

      3. 激光透鏡

        • 平凸 / 雙凸透鏡,用于光束整形和聚焦

    4. 生物醫學光學

      1. Flow Cells

        • 115B-10-4010mm 光程,生物兼容性石英,適配流式細胞儀)

      2. 顯微物鏡

        • UV-Fluor 系列(適用于熒光顯微鏡)

    二、型號命名規則解析

    Hellma 的型號通常包含以下信息:

    • 數字部分:表示核心規格,如光程(10mm→10)、容量(3500μL→3500

    • 字母代碼

      • 材料QS(熔融石英)、OG(光學玻璃)、CaF2(氟化鈣)

      • 功能CD(圓二色光譜)、FC(流式細胞)

      • 系列QX(超低熒光)、Excalibur(探頭系列)

    • 后綴

      • -40:表示標準接口(如 SMA905

      • -B:表示生物兼容性涂層

    示例:110-QS-10-40

    • 110:產品系列

    • QS:熔融石英材質

    • 1010mm 光程

    • 40SMA905 接口

    三、選型建議與資源獲取

    1. 資源

      1. 產品目錄:提供 PDF 格式的《Optical Components Catalog》,涵蓋全系列產品

    2. 分銷商支持

      1. 北京漢達森:代理部分標準型號(如 110-QS100-QX),提供現貨查詢

    3. 定制化服務

      1. 材料選擇:可定制 CaF2BaF2、熔融石英等特殊光學材料

      2. 接口設計:支持 SMAFC、螺紋等非標接口

    四、注意事項

    1. 停產型號:部分舊型號(如早期玻璃比色皿)已被新型號替代,建議通過確認可用性

    2. 認證要求:生物醫學應用需選擇 FDA 認證材料(如 115B 系列)

    3. 技術參數:關鍵指標(如熒光背景、激光損傷閾值)需參考測試報告

    五、延伸閱讀

    • 應用案例Hellma 應用中心" 提供光譜分析、激光加工、生物制藥等領域的解決方案

    • 行業標準:符合 ISO 17025 認證的校準服務,確保測量精度

    如需完整型號列表或定制化方案,建議直接聯系 Hellma 銷售網絡或訪問其獲取新信息。

    八、質量檢測標準

    (一)幾何參數檢測

    采用光學投影儀對直徑進行測量,將元件放置于投影儀工作臺上,通過光學成像系統獲取元件輪廓圖像,測量軟件基于圖像邊緣識別技術,精確測量直徑尺寸,確保其在 28.0±0.1mm 范圍內 。使用千分尺對厚度進行多點測量,在元件表面均勻選取至少三個測量點,旋轉千分尺測量軸,使其與元件表面緊密貼合,讀取測量值,取平均值作為厚度測量結果,控制厚度在 5.0±0.1mm 公差范圍內。利用平面度測量儀檢測平面 - 平面的平行性,通過干涉原理測量兩平面間的干涉條紋,根據條紋分布計算平面度誤差,確保平行度滿足光學系統對平面平行性的嚴格要求。

    (二)表面質量檢測

    運用非接觸式粗糙度測量儀驗證表面粗糙度 Rq=2μm,測量儀通過光學掃描或觸針掃描方式獲取表面微觀輪廓數據,經數據處理計算出 Rq 值,確保研磨后的表面粗糙度符合設計要求。輔以目視檢查,在充足照明條件下,將元件置于黑色背景板上,從不同角度觀察表面,檢查是否存在明顯劃痕、凹坑等宏觀缺陷;對于難以用肉眼分辨的微觀缺陷,使用顯微鏡進行放大觀察,確保表面無影響元件光學性能的加工瑕疵。

    (三)晶體結構驗證

    借助偏光顯微鏡檢測晶體取向,將元件置于偏光顯微鏡載物臺上,調整偏振片角度,觀察晶體在正交偏振光下的消光現象,根據消光方向與晶體結構的關系,確定晶體取向是否為 <111>。利用 X 射線衍射儀分析晶體完整性,X 射線照射元件后,產生的衍射圖案反映晶體內部原子排列信息,通過與標準 CaF?單晶衍射圖譜對比,檢測晶體結構是否存在明顯缺陷、位錯或晶界污染,確保滿足 LD-A 等級的材料要求,保證元件在光學應用中的穩定性與可靠性。

     Hellma CaF?-Rundscheiben光學設備分析



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